方(fāng)塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ)的測(cè)試(shì)方(fāng)法和定義更新
蒸(zhēng)發(fā)鋁膜，導電漆膜，印製電路(lù)板(bǎn)銅箔(bó)膜等(děng)薄膜狀(zhuàng)導電(diàn)材(cái)料，衡(héng)量它們厚度(dù)的*好方法就是(shì)測(cè)試它們(mén)的(dí)方阻。什麼(mó)是(shì)方(fāng)阻(zǔ)呢？方阻(zǔ)就是方(fāng)塊電(diàn)阻，指(zhǐ)一(yī)個(gè)正方形(xíng)的薄(báo)膜導電材(cái)料(liào)邊到(dào)邊(biān)“之(zhī)”間的電阻，如(rú)圖一(yī)所(suǒ)示，即(jí)B邊到(dào)C邊的電(diàn)阻值。方塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ)有(yǒu)一個(gè)特性(xìng)，即任(rèn)意(yì)大(dà)小的正方形邊到邊的(dí)電阻(zǔ)都是一(yī)樣的(dí)，不(bù)管邊長是1米還是(shì)0.1米，它們的(dí)方阻都是一樣(yàng)，這樣方阻僅(jǐn)與(yǔ)導電膜的厚(hòu)度等因(yīn)素(sù)有關(guān)。
方塊(kuài)電阻如何(hé)測試(shì)呢，可(kě)不可以用萬(wàn)用表(biǎo)電阻檔直接(jiē)測試圖(tú)一所示(shì)的材(cái)料(liào)呢(ní)？不(bù)可(kě)以(yǐ)的，因萬(wàn)用表的表筆隻能(néng)測試(shì)點(diǎn)到(dào)點之間的電阻(zǔ)，而這(zhè)個點(diǎn)到(dào)點(diǎn)之(zhī)間的電阻不(bù)表(biǎo)示(shì)任(rèn)何意(yì)義。如要測(cè)試(shì)方(fāng)阻(zǔ)，首先我們需要在A邊(biān)和B邊(biān)各壓上(shàng)一個電(diàn)阻比導電膜電阻(zǔ)小(xiǎo)得多(duō)的圓(yuán)銅(tóng)棒，而且這個(gè)圓銅(tóng)棒光潔(jié)度要(yào)高(gāo)，以便和導(dǎo)電膜(mó)接觸(chù)良(liáng)好。
探(tàn)頭(tóu)由四根(gēn)探(tàn)針阻(zǔ)成，要(yào)求(qiú)四根探針(zhēn)頭部(bù)的距離相等(děng)。四根探針由四根引(yǐn)聯接到(dào)方(fāng)阻(zǔ)測(cè)試儀上，當(dāng)探頭(tóu)壓(yā)在(zài)導電薄(báo)膜(mó)材料上麵(miàn)時，方(fāng)阻計就(jiù)能(néng)立(lì)即顯示出材(cái)料(liào)的(dí)方(fāng)阻(zǔ)值(zhí)，具(jù)體(tǐ)原(yuán)理(lǐ)是(shì)外(wài)端(duān)的(dí)兩(liǎng)根探針(zhēn)產(chǎn)生電流場，內端上兩根探(tàn)針測(cè)試電流場(cháng)在這兩(liǎng)個探點(diǎn)上形(xíng)成的電(diàn)勢。因為方阻(zǔ)越(yuè)大(dà)，產生的(dí)電勢(shì)也(yě)越大(dà)，因此就(jiù)可(kě)以(yǐ)測出材(cái)料的方阻值。需要提(tí)出(chū)的(dí)是雖(suī)然都是四(sì)端測(cè)試，但原(yuán)理上(shàng)與圖二所示用銅棒(bàng)測方阻(zǔ)的方法不同(tóng)。因電流場(cháng)中僅少(shǎo)部分(fēn)電(diàn)流(liú)在BC點(diǎn)上產生電壓（電勢(shì)）。所示(shì)靈(líng)敏度要低得多，比值(zhí)為1：4.53。
影響探(tàn)頭法測試方(fāng)阻精度的因(yīn)素：
（1）要(yào)求探頭邊緣到材料邊緣的距離(lí)大(dà)大(dà)於(yú)探(tàn)針(zhēn)間距(jù)，一般要(yào)求10倍(bèi)以上。
（2）要(yào)求探針頭之間(jiān)的距離(lí)相等，否則就要(yào)產(chǎn)生等比(bǐ)例測試誤(wù)差。
（3）理論上(shàng)講(jiǎng)探針頭(tóu)與導電薄(báo)膜(mó)接觸的(dí)點越小越(yuè)好(hǎo)。但實際應(yīng)用(yòng)時，因針(zhēn)狀電(diàn)極容(róng)易破壞被(bèi)測試的導 電(diàn)薄膜材料(liào)，所(suǒ)以一(yī)般采用圓(yuán)形探針頭。
*後談談實際(jì)應用中(zhōng)存在的問題(tí)
1，如果被(bèi)測(cè)導(dǎo)電薄(báo)膜材料表麵上不幹淨(jìng)，存(cún)在油汙或材料(liào)暴(bào)露在空氣(qì)中時間過長，形(xíng)成(chéng)氧化層(céng)，會(huì)影 響測試(shì)穩定(dìng)性和(hé)測試(shì)精度。在測(cè)試(shì)中(zhōng)需(xū)要引起(qǐ)注(zhù)意。
2，如(rú)探頭的探針(zhēn)存(cún)在(zài)油汙等也會引起測試不穩(wěn)，此時可以把(bǎ)探(tàn)頭在(zài)幹淨(jìng)的白紙(zhǐ)上滑(huá)動幾下擦(cā)一(yī)擦(cā)可(kě)以 了。
3，如果(guǒ)材(cái)料(liào)是蒸發鋁(lǚ)膜等(děng)，蒸發的(dí)厚度(dù)又太薄(báo)的(dí)話，形成的(dí)鋁(lǚ)膜不(bù)能均(jūn)匀的連成一片(piàn)，而是(shì)形(xíng)成點狀 分布(bù)，此時(shí)方塊電(diàn)阻(zǔ)值會(huì)大大(dà)增加(jiā)，與通過稱(chēng)重法計算的厚(hòu)度(dù)和方阻(zǔ)值(zhí)不一樣，因此，此(cǐ)時就要考 慮到加入(rù)修正係(xì)數。
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