泄(xiè)漏電(diàn)流測試儀(yí)應用(yòng)於測量(liáng)電器(qì)的工作電(diàn)源（或其(qí)他(tā)電源）通(tōng)過絕(jué)緣或分(fēn)布參數阻(zǔ)抗產生的與(yǔ)工(gōng)作無關的(dí)泄漏電(diàn)流(liú)，其輸(shū)入阻(zǔ)抗模擬(nǐ)人體(tǐ)的阻抗。
泄(xiè)漏(lòu)電流測(cè)試儀主要由阻抗變換，量程轉(zhuǎn)換(huàn)，交(jiāo)直流變換，放(fàng)大，指示裝置等組(zǔ)成。有的還具有(yǒu)過(guò)流保護，聲光報警(jǐng)電路和試驗(yàn)電(diàn)壓調(tiáo)節(jié)裝(zhuāng)置(zhì)，其(qí)指示(shì)裝置分(fēn)模(mó)擬式(shì)和數(shù)字(zì)式(shì)兩種。
泄漏電(diàn)流(liú)測(cè)試儀原(yuán)理(lǐ)和操作(zuò)
泄(xiè)漏(lòu)電流是指(zhǐ)在沒(méi)有(yǒu)故(gù)障(zhàng)施(shī)加電壓(yā)的(dí)情況下，電(diàn)氣(qì)中(zhōng)帶相(xiāng)互絕緣的(dí)金屬(shǔ)零件(jiàn)之間(jiān)，或帶電零(líng)件(jiàn)與接(jiē)地零(líng)件之(zhī)間，通過其周圍介(jiè)質或絕緣(yuán)表麵所形(xíng)成的(dí)電流(liú)稱(chēng)為(wéi)泄漏(lòu)電(diàn)流(liú)。按(àn)照美國UL標(biāo)準(zhǔn)，泄漏電(diàn)流(liú)是包括電容耦合(hé)電流(liú)在(zài)內(nèi)的，能從(cóng)家用電器可觸(chù)及部分傳(chuán)導(dǎo)的(dí)電(diàn)流。泄漏電(diàn)流(liú)包(bāo)括兩部(bù)分(fēn)，一部分(fēn)是(shì)通(tōng)過(guò)絕緣(yuán)電阻的傳(chuán)導電(diàn)流I1；另(lìng)一(yī)部(bù)分是(shì)通過分布(bù)電容的(dí)位(wèi)移電流I2，後者容抗為Xc=1/2πfc與電源(yuán)頻(pín)率(shuài)成反比(bǐ)，分(fēn)布(bù)電容電(diàn)流隨(suí)頻(pín)率升高(gāo)而增加(jiā)，所(suǒ)以泄漏(lòu)電(diàn)流隨電源(yuán)頻(pín)率升高(gāo)而(ér)增加。例如(rú)：用(yòng)可控矽(guī)供電(diàn)，其諧(xié)波(bō)分量使(shǐ)泄漏電(diàn)流增(zēng)大(dà)。在進行耐(nài)壓(yā)測(cè)試時，為了(liǎo)保護試驗(yàn)設(shè)備和按(àn)規定的(dí)技(jì)術指(zhǐ)標測試(shì)，也需(xū)要(yào)確(què)定一(yī)個(gè)在不破壞(huài)被測(cè)設備（絕緣材料(liào)）的(dí)*高(gāo)電(diàn)場強度下(xià)允許(xǔ)流經被測(cè)設(shè)備（絕緣材料）*大(dà)電(diàn)流值，這個電(diàn)流(liú)通常(cháng)也(yě)稱為(wéi)泄漏電(diàn)流，但這個要(yào)領隻(zhī)是在(zài)上(shàng)述特(tè)定場使下(xià)使(shǐ)用(yòng)。
泄漏(lòu)電(diàn)流測試(shì)儀測(cè)試注(zhù)意事項(xiàng)
1，在(zài)工(gōng)作(zuò)溫(wēn)度下測(cè)量泄漏(lòu)電流時，如果被測電器不(bù)是通(tōng)過(guò)隔(gé)離變(biàn)壓器供(gōng)電(diàn)，被測電(diàn)器(qì)應彩(cǎi)絕緣(yuán)性能可靠(kào)的物質絕緣(yuán)墊與(yǔ)地絕(jué)緣(yuán)。否則將(jiāng)有部分(fēn)泄(xiè)漏電(diàn)流(liú)直接流(liú)經(jīng)地(dì)麵(miàn)而(ér)不經過(guò)儀器，影響測試數(shù)據的準確性(xìng)。
2，泄漏電(diàn)流測量是帶(dài)電進(jìn)行(háng)測量(liáng)的，被(bèi)測電器外殼是帶電的(dí)。因(yīn)此，試(shì)驗(yàn)人員(yuán)必(bì)須(xū)注(zhù)意**，各式各樣試驗(yàn)室(shì)應(yīng)製(zhì)訂**操(cāo)作(zuò)規(guī)程，在(zài)沒有切斷(duàn)電流(liú)前(qián)，不得觸(chù)摸(mō)被測電(diàn)器。
3，應(yīng)盡(jìn)量減(jiǎn)少環(huán)境對(duì)測試(shì)數據的(dí)影響，測(cè)試(shì)環(huán)境(jìng)的(dí)溫(wēn)度，濕度(dù)和絕緣(yuán)表麵的(dí)汙染情況，對於(yú)泄漏(lòu)電流有很(hěn)大影響，溫(wēn)度(dù)高(gāo)，濕(shī)度(dù)大(dà)，絕緣表(biǎo)麵(miàn)嚴重汙染，測定(dìng)的(dí)泄(xiè)漏電流(liú)值較大(dà)。
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