1. 能(néng)說明(míng)一(yī)下(xià)數字(zì)電(diàn)橋(qiáo)部(bù)份符(fú)號標識的(dí)釋(shì)義嗎？
答：L：電感(gǎn)；C：電容；R：電(diàn)阻(zǔ)；
B：電納；D：損(sǔn)耗(hào)；G：電導；
Q：品質因數； X：電抗；Z：阻(zǔ)抗；θ：相(xiāng)位角；
DC：直(zhí)流；AC：交(jiāo)流；
FREQ：頻率(shuài)；STORE：存儲(chǔ)；RECAL：調(tiáo)用儀器設置；
AUTO：自動；MODE：模(mó)式(shì)；
SER：等(děng)效(xiào)串聯；PAR：等效並(bìng)聯(lián)。
2. 不同(tóng)的測(cè)試頻(pín)率對元器件測試(shì)有影(yǐng)響嗎？
答(dá)：有。
3. 測(cè)試電(diàn)壓不同(tóng)對(duì)元器(qì)件測(cè)試有影響(xiǎng)嗎？
答：有。
4. 對於一個已知的“電容(róng)”，使用(yòng)者應(yīng)該(gāi)選用什(shí)麼樣(yàng)的(dí)測(cè)試(shì)條件(jiàn)？
答(dá)：（1）小於 100pF 電容(róng)用(yòng) 1MHz（如果數字電橋具備(bèi)這(zhè)個檔(dàng)位的(dí)話(huà)）頻率測量(liáng)；
（2）中等容(róng)量，如 1000pF-10uF 電容，1kHz，10kHz，100kHz 應(yīng)該(gāi)選擇選哪(nǎ)
一(yī)個檔(dàng)位(wèi)，國(guó)家(jiā)標(biāo)準，測試(shì)中等電容(róng)的測(cè)試頻率(shuài)標(biāo)準(zhǔn)是(shì) 1kHz。電解類，如鋁電(diàn)
解(jiě)，鉭(tǎn)電(diàn)解(jiě)等(děng)用(yòng) 100Hz 或 120Hz；
（3）從(cóng)電平的(dí)角度來說(shuō)，大部分電容對(duì)測試電(diàn)平(píng)不(bù)敏感(gǎn)，因此，不(bù)同(tóng)電平(píng)測
試(shì)變(biàn)化不大，但有些(xiē)介(jiè)電常數大(dà)的電(diàn)容對(duì)測試(shì)電平非常(cháng)敏感，故(gù)應(yīng)根(gēn)據實(shí)際需(xū)
要(yào)仔(zī)細選(xuǎn)擇(zé)測試(shì)電(diàn)平。一些入門(mén)級的(dí)數字電(diàn)橋(qiáo)沒有(yǒu)該選項(xiàng)，隻(zhī)能使用默認測(cè)試
電平進(jìn)行測(cè)試(shì)。
LCR數(shù)字電橋(qiáo)使用(yòng)問答
5. 測(cè)試信號(hào)電(diàn)平(píng)是(shì)什(shí)麼(mó)意思？
答：施(shī)加(jiā)於(yú)被(bèi)測元器件上的(dí)電平是(shì)十(shí)分重要(yào)的(dí)。實(shí)際(jì)施(shī)加於(yú)被(bèi)測(cè)件(jiàn)上的(dí)電平(píng)（電
壓(yā)或電流(liú)）與儀器(qì)信號(hào)源阻抗(kàng)有關，雖然儀器(qì)電(diàn)平(píng)相(xiāng)同(tóng)，若信(xìn)號(hào)源阻抗(kàng)不(bù)同，
實際施(shī)加(jiā)於(yú)被測(cè)件上的電(diàn)平(píng)就(jiù)不同。
6. 數字(zì)電橋測量的(dí)準確(què)度如何(hé)？
答(dá)：測(cè)量(liáng)準確(què)度是反(fǎn)映儀器性能的主(zhǔ)要指(zhǐ)標之一。確切了解(jiě)所需儀器的準確度(dù)
是準確評價元器件優劣(liè)的關(guān)鍵(jiàn)。一般來講，儀器本(běn)身(shēn)的準確度應比(bǐ)測量(liáng)元器(qì)件(jiàn)
的技術指(zhǐ)標(biāo)要求(qiú)高。通(tōng)常，儀(yí)器(qì)設備或其宣(xuān)傳資料(liào)給出(chū)的參(cān)數(shù)是在一定條件下
的(dí)*高(gāo)準確度，也(yě)就(jiù)是所(suǒ)謂的(dí)理(lǐ)論值(zhí)。
實際上，無(wú)論(lùn)是(shì)數(shù)字電(diàn)橋還(huán)是(shì)其它設備，參數(shù)標稱(chēng)值與實(shí)際值(zhí)均存在或多
或少的差(chà)異，這(zhè)是使用(yòng)者應該清楚(chǔ)並(bìng)注(zhù)意的(dí)。要想(xiǎng)了解被(bèi)測(cè)量元(yuán)器件在(zài)測量(liáng)頻(pín)
率下呈現(xiàn)的(dí)阻抗(kàng)，以(yǐ)及對(duì)應測量條件(jiàn)下(xià)，測試(shì)儀器的(dí)準確度是(shì)否滿(mǎn)足(zú)測量要求，
那麼(mó)，充分(fēn)了解儀(yí)器(qì)的測(cè)量(liáng)準(zhǔn)確度是(shì)極(jí)為(wéi)重要的(dí)。
當(dāng)然，測試準(zhǔn)確(què)度(dù)與所給定(dìng)的測(cè)試條(tiáo)件(jiàn)密切(qiē)相(xiāng)關，這(zhè)一點(diǎn)，同樣(yàng)不(bù)能忽(hū)視。
須知，即(jí)使是(shì)相(xiāng)同(tóng)基本準(zhǔn)確(què)度的儀器(qì)，其(qí)在(zài)不同量值被測元(yuán)器件和不同(tóng)頻(pín)率下(xià)
其準確(què)度(dù)是有(yǒu)很大區別(bié)的(dí)。
7. 什(shí)麼是(shì)損(sǔn)耗？品(pǐn)質(zhì)因(yīn)數 Q 值?
答(dá)：D，Q 兩者互為(wéi)倒(dǎo)數，其(qí)計算(suàn)方法(fǎ)為被測元器(qì)件的有功功率(shuài) PR（電阻(zǔ)器(qì)耗能）
與無功功(gōng)率(shuài) PC（電容器(qì)儲(chǔ)能）或 PL（電(diàn)感器儲(chǔ)能）的(dí)比(bǐ)值(zhí)，對串(chuàn)聯和(hé)並聯等效
電路(lù)使用下(xià)式計(jì)算(suàn)：=Rs/|Xs|，D=|Xp|/Rp，D 和(hé) Q 的(dí)值與(yǔ)等(děng)效(xiào)方(fāng)式無關。
8. 怎(zěn)樣選擇串聯和(hé)並(bìng)聯(lián)測(cè)試(shì)參數?
答(dá)：（1）電容測(cè)量(liáng)，可(kě)以兩(liǎng)個(gè)不(bù)同的測試頻率(shuài)下損(sǔn)耗因子的變(biàn)化性質(zhì)來決定(dìng)，
若頻(pín)率(shuài)升高(gāo)而損耗(hào)增(zēng)加，則應選用串(chuàn)聯等(děng)效(xiào)電路測(cè)試(shì)模試(shì)；若頻(pín)率升高(gāo)而損(sǔn)耗
減(jiǎn)小，則(zé)應選(xuǎn)用並聯等(děng)效(xiào)電路測試(shì)模(mó)試(shì)。
（2）對(duì)於(yú)電(diàn)感(gǎn)來(lái)說，情況正(zhèng)好與電容相反(fǎn)。實(shí)際中，器(qì)件的 D 不可(kě)能(néng)與頻(pín)
率完全成(chéng)正比(bǐ)關(guān)係(xì)，其(qí)可(kě)能有並聯(lián)成分，也(yě)可能(néng)有(yǒu)串聯(lián)成分(fēn)，應看(kàn)何種成(chéng)分(fēn)占(zhān)
主導(dǎo)地位(wèi)。
（3）根據元器件(jiàn)的(dí)*終使(shǐ)用(yòng)情況來判定。如(rú)用於信號耦(ǒu)合(hé)電容(róng)，則*好(hǎo)選
擇(zé)串聯方(fāng)式，旁(páng)路或並(bìng)聯諧振(zhèn)則(zé)使用(yòng)並(bìng)聯等(děng)效(xiào)電路(lù)。
（4）約(yuē)定俗成(chéng)的(dí)習(xí)慣(guàn)是(shì)，低(dī)阻抗元件(jiàn)用串聯，從數(shù)值(zhí)上說(shuō)阻抗(kàng)小於 100 歐(ōu)
姆用串(chuàn)聯，大(dà)於(yú) 10 千(qiān)歐用並聯(lián)，阻抗大於 100 歐(ōu)姆-10 千歐的，根據(jù)實際情(qíng)況
（主要(yào)是(shì)指元(yuán)器(qì)件(jiàn)的使用場合及(jí)使用要求）選(xuǎn)擇。
9. 什(shí)麼叫(jiào)等效串聯(lián)電阻(zǔ) Rs？等效並聯電阻(zǔ) Rp?
答(dá)：任何一(yī)個被測(cè)元(yuán)器件(jiàn)都可(kě)以等效(xiào)為一個串聯(lián)電(diàn)路(lù)或並(bìng)聯(lián)電(diàn)路(lù)，串(chuàn)聯(lián)電阻 Rs
為(wéi)串聯(lián)等效電(diàn)路中的(dí)電(diàn)阻部分，Rs 也(yě)叫(jiào) ESR，並(bìng)聯電阻 Rp 為並聯等效電路中(zhōng)的
電(diàn)阻(zǔ)部分(fēn)，Rp 也(yě)叫 EPR。
10. 怎(zěn)樣(yàng)選(xuǎn)擇(zé)測(cè)試速(sù)度(dù)?
答(dá)：一般(bān)來(lái)說，測(cè)試速度是以犧牲測試精度為(wéi)代價的。速度越快(kuài)，精度(dù)越差(chà)，
讀數穩定性差，有效位數(shù)變少(shǎo)。如果要(yào)求(qiú)測試精度(dù)，一(yī)般(bān)選擇慢(màn)速，要考慮(lǜ)測
試速度和測試精(jīng)度(dù)就選擇中(zhōng)速(sù)。通(tōng)常(cháng)情況(kuàng)下，大多選(xuǎn)擇(zé)中(zhōng)速(sù)檔(dàng)位進行(háng)測試。
11. 儀器(qì)為(wéi)什麼要進行(háng)清零(líng)?
答(dá)：（1）由(yóu)於儀器本(běn)身的漂移(yí)，會(huì)疊(dié)加一(yī)些雜(zá)散成(chéng)份，如接觸電阻(zǔ)，電(diàn)感，並(bìng)
聯電容等(děng)，不(bù)清零(líng)就(jiù)會有誤差(chà)。
（2）短(duǎn)路清零(líng)對小阻(zǔ)抗(kàng)器(qì)件(jiàn)更(gēng)為(wéi)有效(xiào)，開路清零對(duì)高阻抗器件更(gēng)有效(xiào)。
12. 有(yǒu)些 LCR 數字電(diàn)橋選配(pèi) GPIB 接口(kǒu)有(yǒu)什麼(mó)作(zuò)用？
答：這種(zhǒng)功(gōng)能(néng)大多出現在(zài)稍**的電橋(qiáo)上。主(zhǔ)要是(shì)使(shǐ)設備通過 GPIB 接(jiē)口(kǒu)和電(diàn)腦
相(xiāng)連，編寫相應(yīng)的軟件，可以實(shí)現(xiàn)用(yòng)電腦(nǎo)控(kòng)製(zhì)儀(yí)器(qì)，進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量。對於一(yī)般(bān)
應用而言，GPIB 接(jiē)口功(gōng)能(néng)可不必考慮(lǜ)。
13. 什(shí)麼(mó)是負載校(xiào)準，負載校(xiào)準應注(zhù)意哪(nǎ)些問題？
答(dá)：負(fù)載(zǎi)校準(zhǔn)是(shì)一(yī)種的(dí)**的儀器(qì)校準(zhǔn)方法，可(kě)以(yǐ)使儀(yí)器(qì)在高於(yú)儀(yí)器原(yuán)有準確(què)
度的基礎上測(cè)量元器(qì)件，主(zhǔ)要用於下麵(miàn)兩(liǎng)種情況(kuàng)：
（1）當有(yǒu)更準確的(dí)元器件並需對同(tóng)規(guī)格元器(qì)件(jiàn)進行(háng)更(gēng)高準(zhǔn)確(què)度的測量。
（2）統一(yī)現(xiàn)場所有 LCR 數(shù)字電橋(qiáo)的測(cè)試數據。
14. 掃頻清零方式(shì)和點(diǎn)頻(pín)清零(líng)方(fāng)式有何(hé)區別(bié)?
答(dá)：（1）掃(sǎo)頻(pín)一(yī)般(bān)針對實(shí)際測試頻(pín)率點比(bǐ)較多的被測元器件，點頻(pín)清(qīng)零(líng)一般針
對(duì)隻(zhī)要(yào)一個頻點(diǎn)的(dí)被測(cè)元(yuán)器件；
（2）掃頻(pín)清(qīng)零耗時(shí)較(jiào)長(cháng)。如同惠(huì) TH2816A 電橋(qiáo)，無(wú)論(lùn)短路(lù)清(qīng)零，還(huán)是(shì)開路(lù)
清零，均(jūn)采用的是(shì)掃頻(pín)清零方式(shì)。
15. 測量(liáng)的顯示範(fàn)圍(wéi)和精(jīng)度(dù)範圍有(yǒu)何(hé)區(qū)別(bié)?
答(dá)：測量的顯示範圍(wéi)一般(bān)大(dà)於測試(shì)設備(bèi)所(suǒ)標識的精度範圍。
16. 輸(shū)出(chū)阻抗不同對(duì)測(cè)試結(jié)果有(yǒu)什麼影(yǐng)響？為什(shí)麼(mó)有(yǒu)的(dí)儀器有(yǒu) 30Ω和 100Ω
的內(nèi)阻選(xuǎn)擇？
答：（1）儀(yí)器輸出阻(zǔ)抗(kàng)不(bù)同，會(huì)導致(zhì)被測元(yuán)器件上(shàng)施(shī)加(jiā)的(dí)測試信號不同(tóng)，*終(zhōng)
會(huì)導(dǎo)致(zhì)顯(xiǎn)示參數(shù)的差異(yì)和不(bù)同(tóng)。
（2）測試時(shí)，測試信號(hào)其實(shí)是(shì)被(bèi)測件與(yǔ)儀器(qì)內(nèi)阻輸出阻抗(kàng)串聯(lián)在(zài)一起，會(huì)
對(duì)信號產生分壓作用。因(yīn)此，低阻抗(kàng)測(cè)試實際加到(dào)被測器(qì)件上(shàng)的電(diàn)平小於(yú)設定
電平。30Ω兼容較(jiào)老款(kuǎn)式電橋，100Ω可與(yǔ)進口(kǒu)（如(rú) Agilent）儀(yí)器(qì)設(shè)備匹(pǐ)配。
17. 有些電(diàn)橋的(dí) P1\P2\P3 有何具體(tǐ)意義?
答：儀(yí)器的 P1\P2\P3 用於(yú)元(yuán)器件的**品(pǐn)，二級(jí)品，三(sān)級(jí)品的等(děng)級分選(xuǎn)。通常
情況(kuàng)下，**品的(dí)百分(fēn)比(bǐ)極(jí)限小於二級品(pǐn)極限，二(èr)級(jí)品(pǐn)的(dí)百(bǎi)分比(bǐ)極限(xiàn)小(xiǎo)於三(sān)級
品(pǐn)極(jí)限(xiàn)。
18. 同(tóng)一電感(gǎn)在不同廠家的 LCR 儀器上(shàng)用(yòng)相(xiāng)同(tóng)測試(shì)條(tiáo)件，為(wéi)什(shí)麼(mó)測(cè)試數(shù)據(jù)會
有(yǒu)很大(dà)差(chà)別?
答(dá)：（1）絕大多數(shù)電(diàn)感都帶有鐵芯(xīn)磁芯(xīn)，而帶(dài)有鐵芯磁芯的電感對其施加的磁
場非常敏(mǐn)感，磁場與測試信號(hào)電(diàn)流成(chéng)正比，因此相同(tóng)電(diàn)平若內(nèi)阻(zǔ)不同，電(diàn)流(liú)就(jiù)
會(huì)不(bù)一樣，則(zé)結果有很大(dà)差別(bié)。這是(shì)客戶(hù)電感(gǎn)測試時遇到的(dí)普(pǔ)遍問(wèn)題(tí)。
（2）判定儀(yí)器測(cè)試電(diàn)感的一(yī)致性原(yuán)則，應該(gāi)是施加與被測(cè)件上的(dí)電(diàn)流要(yào)一
致(zhì)。但有(yǒu)一(yī)個特例需要注意(yì)，就(jiù)是空心電感與(yǔ)磁(cí)場不(bù)在(zài)此例(lì)。
LCR數字電橋(qiáo)使(shǐ)用問(wèn)答
19. 為(wéi)什麼有(yǒu)時器(qì)件(jiàn)會顯示(shì)“-”值?
答: （1）過(guò)度(dù)清(qīng)零或不適當的清(qīng)零(líng)。（2）受(shòu)限於儀(yí)器的精準度(dù)。
20. 增加測(cè)試(shì)綫的長度(dù)對(duì)測試(shì)有(yǒu)沒有(yǒu)影(yǐng)響？
答：有。一般(bān) LCR 數字電橋(qiáo)出廠時(shí)，采用 1 米長(cháng)的綫進行(háng)校準，如(rú)超過(guò) 1 米(mǐ)，
則需要(yào)重(zhòng)新校準。
21. 儀器的(dí)自動和保持有(yǒu)什麼(mó)實際作用?
答：儀器(qì)的自動檔位(wèi)，一般(bān)用於未(wèi)知大小(xiǎo)的(dí)元器(qì)件的測(cè)試；而保持檔(dàng)位(wèi)，一般(bān)
用於大小已(yǐ)經確定(dìng)的元(yuán)器(qì)件(jiàn)測試；保(bǎo)持功(gōng)能(néng)可以提高儀(yí)器的測(cè)試(shì)效率，還(huán)可(kě)以
起(qǐ)到(dào)延(yán)長儀器內(nèi)部繼電器(qì)的使用壽(shòu)命的(dí)作(zuò)用(yòng)。
22. 電橋(qiáo)的(dí)串(chuàn)行軟件(jiàn)有何(hé)功(gōng)能?
答：一些(xiē)電橋(qiáo)設置有串行接口，供串(chuàn)行(háng)軟(ruǎn)件和(hé)電(diàn)腦連(lián)接(jiē)使(shǐ)用(yòng)，以(yǐ)便(biàn)實現統計分
析或(huò)者(zhě)自動測(cè)試(shì)功能。
23. 儀(yí)器可以(yǐ)測(cè)貼(tiē)片元器件(jiàn)嗎(má)?
答：當然可以(yǐ)，隻要配置（大多是選配）專(zhuān)用 SMD 測(cè)試(shì)夾具就(jiù)可(kě)以(yǐ)測(cè)試貼(tiē)片元
器件(jiàn)了(liǎo)，SMD 測(cè)試(shì)夾(jiā)具分(fēn)為兩端口夾具和四端口(kǒu)夾具(jù)。
24. 直(zhí)流偏置(zhì)電流源(yuán)在有些頻(pín)率(shuài)下為何(hé)無法清零?
答(dá)：交流輸(shū)出阻(zǔ)抗(kàng)頻響不一(yī)致(zhì)，在(zài)某(mǒu)些(xiē)頻(pín)率(shuài)點可能產生(shēng)諧振，因(yīn)此，無法(fǎ)完全
清零(líng)。
25. 測試信號電(diàn)平相關性是(shì)什麼(mó)意(yì)思(sī)？
答(dá)：所有元器件(jiàn)均存在(zài)信號(hào)電平的相(xiāng)關性。即(jí)在(zài)規定測(cè)試頻(pín)率下，元(yuán)器(qì)件數值(zhí)
與信號(hào)電平的大小(xiǎo)有關。有些(xiē)元器(qì)件(jiàn)對電平的(dí)變化不敏感，而有(yǒu)些元(yuán)器件(jiàn)對信
號(hào)電平具有(yǒu)極(jí)強的(dí)敏感性，如高 K（高介電(diàn)常數）值(zhí)的(dí)陶(táo)瓷電(diàn)容，高導(dǎo)磁率(shuài)的(dí)電(diàn)
感器等。因此，對(duì)此類器(qì)件規(guī)定(dìng)其(qí)測量信號電(diàn)平（電壓(yā)或(huò)電(diàn)流）是非(fēi)常重要的(dí)。
26. 測試時(shí)，頻(pín)率(shuài)設置越高(gāo)越準確嗎？
答(dá)：不是(shì)。測試(shì)時，測試(shì)頻(pín)率高(gāo)低(dī)選擇(zé)，取(qǔ)決於(yú)被(bèi)測元器(qì)件本身(shēn)，包括元器(qì)件
的(dí)使用場合。
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