Ø LCR數(shù)字(zì)電(diàn)橋(qiáo)可(kě)提供(gōng)穩定的(dí)6位測試(shì)分(fēn)辨(biàn)率，10Hz-300kHz的(dí)頻率範(fàn)圍，0.01V-2.0V可編程(chéng)信號(hào)電平，高(gāo)達(dá)30次/秒的(dí)測量(liáng)速(sù)度(dù)，9級(jí)精細(xì)量程(chéng)，恒定的(dí)30Ω或100Ω源內阻及靈(líng)活人(rén)性(xìng)的操作方式(shì), 可滿(mǎn)足生(shēng)產(chǎn)綫質(zhì)量保(bǎo)證，進(jìn)貨檢驗(yàn)及實驗(yàn)室。
Ø LCR數(shù)字電橋(qiáo)可用於(yú)計量測(cè)試部(bù)門(mén)對阻抗量具(jù)的檢定與傳(chuán)遞，以及在一(yī)般部(bù)門(mén)中(zhōng)對阻(zǔ)抗(kàng)元件(jiàn)的常(cháng)規(guī)測(cè)量(liáng)。很(hěn)多數字(zì)電橋帶(dài)有標準接口，可(kě)根據(jù)被測(cè)值(zhí)的(dí)準(zhǔn)確(què)度對(duì)被(bèi)測(cè)元件進行自動分檔(dàng)；也可直(zhí)接(jiē)連接(jiē)到自動測(cè)試(shì)係(xì)統，用(yòng)於(yú)元件(jiàn)生產綫上(shàng)對(duì)產(chǎn)品自動檢(jiǎn)驗，以(yǐ)實(shí)現生產過(guò)程(chéng)的質量(liáng)控製(zhì)。80年代(dài)中期(qī)，通(tōng)用的(dí)誤差低於0.1％的(dí)數字電橋有幾(jī)十(shí)種。數字(zì)電(diàn)橋(qiáo)正(zhèng)向著更高準(zhǔn)確(què)度，更多功能，高速，集(jí)成化(huà)以及智(zhì)能化(huà)程度方(fāng)麵發展。
LCR數(shù)字電橋(qiáo)的測量(liáng)對象
Ø 無(wú)源元(yuán)件(jiàn)：電(diàn)容器(qì)，電(diàn)感(gǎn)器，磁(cí)芯，電阻器(qì)，變(biàn)壓(yā)器，芯(xīn)片組件和(hé)網絡(luò)元(yuán)件等的(dí)阻抗參數測(cè)量。
Ø 半導體(tǐ)元件(jiàn)：電(diàn)容(róng)器，電(diàn)感(gǎn)器，磁芯，電阻器，變(biàn)壓(yā)器，芯片(piàn)組件(jiàn)和(hé)網(wǎng)絡元(yuán)件(jiàn)等(děng)的阻抗(kàng)參數測量(liáng)。
Ø 其它(tā)元(yuán)件：印製電路(lù)板，繼電器，開(kāi)關，電纜(lǎn)，電池等的(dí)阻(zǔ)抗(kàng)評(píng)估(gū)。
Ø 介(jiè)質材(cái)料(liào)：塑(sù)料(liào)，陶瓷和(hé)其它材料的(dí)介(jiè)電常數的損(sǔn)耗角評(píng)估。
Ø 磁性(xìng)材料：鐵(tiě)氧(yǎng)體(tǐ)，非(fēi)晶體和其(qí)它(tā)磁性材料的導(dǎo)磁率(shuài)和(hé)損耗角評估。
Ø 半導體材料：半導體(tǐ)材料(liào)的介(jiè)電常數,導(dǎo)電(diàn)率和C-V特性(xìng)。
Ø 液晶(jīng)材(cái)料：液(yè)晶單元(yuán)的介電(diàn)子(zǐ)常數，彈(dàn)性常數(shù)等C-V特性。
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本標(biāo)題頁麵(miàn)：數字電橋的(dí)作用及(jí)其(qí)測量對象
數字電橋(qiáo)