HAMEG惠美HZ530有源近場(cháng)探(tàn)頭(tóu)套(tào)件(jiàn)
產品(pǐn)簡介：
HZ530 探頭(tóu)套(tào)件由(yóu)用於(yú) EMI 診(zhěn)斷(duàn)的三個有源(yuán)寬(kuān)帶(dài)探頭組成。這些探頭可與(yǔ)輸入阻抗(kàng)為(wéi)50Ω的(dí)HAMEG頻譜分(fēn)析儀相(xiāng)連。探(tàn)頭可通過(guò)頻率分(fēn)析儀或電(diàn)池來供(gōng)電(diàn)。這些探頭具有細(xì)長的(dí)外形，因(yīn)此(cǐ)甚至(zhì)在空(kōng)間狹窄的測試環(huán)境中也(yě)可(kě)接觸(chù)到(dào)測(cè)試對象。磁場探頭可(kě)提(tí)供一個(gè)與頻譜分(fēn)析儀的磁場強度(dù)成正(zhèng)比(bǐ)的(dí)信號。這樣(yàng)就(jiù)可以很高的精度找到(dào)幹(gān)擾源。高阻抗探頭可用(yòng)於確(què)定觸點(diǎn)，綫(xiàn)路和印(yìn)刷(shuā)電(diàn)路(lù)板上的幹(gān)擾(rǎo)電平(píng)。電場(cháng)探頭在這三(sān)種探頭中(zhōng)靈敏(mǐn)度*高(gāo)。它可(kě)用(yòng)於(yú)評(píng)估被測設(shè)備(bèi)中的(dí)總體屏蔽(bì)和(hé)濾(lǜ)波效果。
性(xìng)能(néng)特(tè)點(diǎn)：
l HZ530 探(tàn)頭套(tào)件由(yóu)用於 EMI 診(zhěn)斷(duàn)的三(sān)個(gè)有(yǒu)源(yuán)寬(kuān)帶探頭組成
l 探頭可(kě)與輸(shū)入阻(zǔ)抗為50Ω的HAMEG頻譜(pǔ)分析(xī)儀相連
l 探頭可通(tōng)過(guò)頻率分(fēn)析(xī)儀或電(diàn)池來供(gōng)電
l 探頭具有細(xì)長的外(wài)形，因此甚至(zhì)在(zài)空(kōng)間(jiān)狹(xiá)窄的測(cè)試環(huán)境(jìng)中也(yě)可(kě)接觸(chù)到測試對象(xiàng)
l 磁場探頭(tóu)可提供(gōng)一(yī)個與頻譜(pǔ)分(fēn)析儀的磁場(cháng)強(qiáng)度成(chéng)正比(bǐ)的信(xìn)號(hào)。這樣(yàng)就(jiù)可(kě)以很高(gāo)的(dí)精(jīng)度找(zhǎo)到(dào)幹擾源(yuán)。
l 高阻抗(kàng)探(tàn)頭可(kě)用於確定(dìng)觸點，綫路和(hé)印刷(shuā)電路板上的幹擾(rǎo)電平
l 電(diàn)場探(tàn)頭在(zài)這三種探(tàn)頭中靈(líng)敏(mǐn)度*高。它可(kě)用於評估(gū)被測(cè)設備中(zhōng)的總體(tǐ)屏(píng)蔽和濾波效果。
技術(shù)指(zhǐ)標(23°C±2°C時)
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頻率(shuài)範圍(wéi)：
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100kHz至1GHz
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電源電壓：
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6VDC，由頻譜(pǔ)分析儀(yí)或(huò)電池(chí)提(tí)供(4節Mignon/AA電池(chí)，不(bù)提供)
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電(diàn)源(yuán)電流(liú)：
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大(dà)約(yuē)10-24mA DC
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探頭(tóu)尺寸：
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40×90×195mm
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機箱：
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塑料，內部電屏蔽
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套件(jiàn)包括：
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1個(gè)電場探頭
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1個磁場(cháng)探頭(tóu)
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1個(gè)高阻(zǔ)抗探頭
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1條BNC電(diàn)纜(lǎn)(1.5m)
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1條電源電纜
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操作手(shǒu)冊
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堅(jiān)固(gù)的(dí)攜(xié)帶箱(xiāng)
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上海麥(mài)聚瑞(ruì)電子(zǐ)儀(yí)器有限(xiàn)公(gōng)司是一家(jiā)集(jí)生(shēng)產(chǎn)，研發(fā)以及產品代(dài)理經銷，產品技術(shù)培訓和提供解(jiě)決(jué)方案的(dí)專(zhuān)業(yè)儀器儀表公(gōng)司(sī)
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